干貨 — 射頻探針原理

射頻探針在射頻產(chǎn)品的生命周期中每一個階段都起著重要作用：從技術(shù)開發(fā)，到模型參數(shù)提取，再到設(shè)計驗證及調(diào)試一直到最后的小規(guī)模生產(chǎn)測試和最終的生產(chǎn)測試。通過使用射頻探針，人們便有可能在晶片層次上測量射頻組件的真正特性。華榮華測試探針工廠的工程師在射頻探針技術(shù)上取得了突破。確定了射頻探針的基本要求和工作原理：1） 探針的50-Ω平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與DUT壓點相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對于微帶線和隨后的共面探針設(shè)計，探針的接觸是用小的金屬球來實現(xiàn)的，這個金屬球要足夠大以保證可靠且可重復(fù)性的接觸。　　2） 為了能同時接觸到DUT的信號壓點和接地壓點，需要將探針傾斜。這個過程被稱為“探針的平面化”。　　3） 探針的接觸重復(fù)性比同軸連接器的可重復(fù)性要好得多。便于進行探針極尖和在片標準及專用校準方法的開發(fā)。　　4）具有很高重復(fù)性的接