華榮華P125系列導(dǎo)電頂針有多種型號(hào)，不同型號(hào)在頭型、材質(zhì)等方面存在差異，舉例以下是P125-J、P125-H的詳細(xì)介紹以及P125探針的相關(guān)信息：

P125-J：

頭型：直上圓頭。

材質(zhì)：針管為黃銅管鍍金，彈簧為不銹鋼線，套管為黃銅管鍍金。

主要參數(shù)：鉆孔尺寸為2.4mm，額定電流為5A，接觸電阻為50毫歐姆，接觸彈力為180g。

特點(diǎn)：125MIL的鍍金層，導(dǎo)電性能好，抗氧化和耐磨能力強(qiáng)。小圓頭結(jié)構(gòu)，針頭圓潤不傷板，適合在密集排布的PCB上操作。

P125-H：

頭型：梅花頭。

材質(zhì)：針管材質(zhì)為黃銅管鍍金，彈簧材質(zhì)為不銹鋼線，針頭材質(zhì)為銅。

主要參數(shù)：額定彈力為180g，最大工作行程為6.5mm，額定電流為5A。

特點(diǎn)：梅花頭設(shè)計(jì)可提供更大的接觸面積，確保信號(hào)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，適用于一些對(duì)接觸可靠性要求較高的測(cè)試場(chǎng)景。

P125探針的應(yīng)用場(chǎng)景

華榮華P125導(dǎo)電頂針因其良好的導(dǎo)電性能、穩(wěn)定的接觸和不同的頭型設(shè)計(jì)，適用于多種應(yīng)用場(chǎng)景，具體如下：

PCB測(cè)試：可用于檢測(cè)電路板上的電氣連接和信號(hào)傳輸是否正常，如在ICT（在線測(cè)試）夾具中，作為測(cè)試針來接觸PCB上的測(cè)試點(diǎn)，判斷線路的開路、短路等問題。

芯片測(cè)試：在IC/BGA測(cè)試治具中，P125導(dǎo)電頂針可以用來連接芯片的引腳和測(cè)試設(shè)備，實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片的性能測(cè)試、功能測(cè)試等，確保芯片的質(zhì)量和性能符合要求。

消費(fèi)電子產(chǎn)品測(cè)試：如手機(jī)、電腦、智能手表等消費(fèi)電子產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中，P125導(dǎo)電頂針可用于對(duì)產(chǎn)品內(nèi)部的電路板、電池、顯示屏等組件進(jìn)行測(cè)試，保證產(chǎn)品的各項(xiàng)功能正常。

新能源領(lǐng)域測(cè)試：在新能源相關(guān)設(shè)備中，如汽車電池、鋰電池等的生產(chǎn)和測(cè)試過程中，P125導(dǎo)電頂針可用于充電設(shè)備、穩(wěn)壓設(shè)備等，實(shí)現(xiàn)對(duì)電池性能的測(cè)試和監(jiān)控。