常規的測試探針包括半導體測試探針、ICT探針、螺紋/旋轉探針、界面針、夾片探針、開關探針、大電流探針、PCB探針、電池探針以及線束探針。以下是這些探針的詳細介紹：

1. 半導體測試探針：這種探針通常用于晶圓或芯片的老化測試，具有非常精細的雙頭設計，能夠適應高溫、低溫、高濕和高頻等極端環境。

2. ICT探針：ICT在線測試針主要應用于I在線電路測試和功能測試，也稱ICT和FCT測試，也是目前應用較多的一種探針。

3. 螺紋/旋轉探針：這種探針設計用于測試線束或電纜塊的端子，可覆蓋50mil到150mil的測試間距，高電流使用時考慮采用螺紋擰入式探針。

4. 界面針：界面針是用于界面模板的信號傳輸，界面模板的形式包括:界面針和接觸終端，確保內部、外部和指定接口中進行可靠的信號傳輸。

5. 夾片探針：適用于需要精確電流和電壓測量的場合，如變壓器和電感的測試。除了基本的測試功能外，還可以用于更復雜的電子組件測試，如接插件的性能評估。

6. 電池探針：主要用于充電產品中，通過注入模塊實現電流充電，高質量的電池探頭也用于攝影設備或磁性連接器。

7. 大電流探針：大電流探針是一種專門設計用于承載高電流的測試探針，其能有效地在電子測試過程中傳遞較高的電流，廣泛應用于半導體及電路板的測試領域。

8. 開關探針：開關針適合非常多樣化的應用，既可以用于部件的存在性檢查，也可以用作檢測打開/閉合狀態的開關，以及用作過程控制的信號發射器。此外還可以對插頭外殼中的接觸端子進行位置確定。

9. 線束探針：線束開關測試探針介紹：主要用于汽車線束通斷檢測及新能源元件測試。內置開關功能的探針主要用于物體存在性測試，該探針是指通過將針頭壓入指定距離(開關行程)來觸發內部開關，而實現通/斷回路的功能，對于不需要電導通的測試，我們有絕緣頭開關式探針可供選擇。

10. PCB探針：PCB探針(pcbProbes)探針主要是根據線路板(PCB)板的中心距和被測點的形狀而定的，PCB板上所要測試的點與點之間越近，選用探針的外徑也就越細。

總之，了解不同類型測試探針的特性和應用可以幫助工程師和技術人員選擇最合適的工具，以確保電子組件和系統的質量和性能。在選擇探針時，應考慮其電氣特性、機械耐久性及與被測設備的兼容性。